据美国《物理》杂志近日报道，美国加州理工学院物理学家开发出新型纳米电子机械系统（NEMS）谐振器，可实时测定单个分子的质量。
加州理工学院的物理学、应用物理学和生物工程学教授兼该校纳米科学研究所主任迈克尔•L•若克斯及其同事经过十多年努力，开发出一种微型NEMS谐振器，有效简化了分子质量测量的程序，并使测量器械微型化。这种2微米长、100纳米宽的桥状谐振器，具有很高的振动频率，可有效充当质谱仪的“度量标尺”。
迈克尔指出，谐振器振动频率的变化还会受到被测分子在谐振器上所处位置的影响，在中心位置引起的频率变动幅度大于边缘位置引起的变动幅度。因此，不能仅依靠一次测量就确定分子质量的大小，大约需要500次的频率转换才会得到精确的测定结果。
将来，研究人员会设法使质量测量免除分子位置点的干扰。目前这套技术设备已有了原型。研究小组希望能创建或许含有成千上万个NEMS谐振器的阵列，通过并行工作，以“在一瞬间”确定成千上万个分子的质量。